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為了防止高低溫測試箱出現(xiàn)意外,要注意這些事情

更新時間:2023-01-09瀏覽:473次
  高低溫測試箱的測試步驟:
  1.預(yù)處理:將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下,直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。
  2.初始檢測:將被測樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求對照,符合要求后直接放入高低溫沖試驗箱內(nèi)即可。
  3.開始試驗:
  A、在樣品斷電的狀態(tài)下,試驗樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗箱內(nèi),先將試驗箱(室)內(nèi)溫度下降到-50℃,保持4個小時;請勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測試,這一步非常重要,因為通電狀態(tài)下,芯片本身就會產(chǎn)生20℃以上溫度,所以,在通電狀態(tài)下,通常比較容易通過低溫測試,必須先將其“凍透”,再次通電進(jìn)行測試。
  B、低溫階段結(jié)束后,在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到90℃的高溫試驗箱(室)內(nèi),保持4h或者直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,與低溫測試相反,升溫過程不斷電,保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài),4個小時后,執(zhí)行A、B測試步驟。
  C、進(jìn)行老化測試,觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯誤。
  E、高溫和低溫測試分別重復(fù)10次。
  F、重復(fù)上述實驗方法,以完成三個循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小,時間可能會略有誤差。
  G、恢復(fù):試驗樣品從試驗箱內(nèi)取出后,應(yīng)在正常的試驗大氣條件下進(jìn)行恢復(fù),直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。
  H、后檢測:對照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測結(jié)果評定。
  高低溫測試箱操作不當(dāng)造成危害,故以下幾點注意事項:
  1、為保證設(shè)備及試驗的安全,請安裝外部保護(hù)接地,并按技術(shù)規(guī)格要求供給電源;
  2、設(shè)備嚴(yán)禁用于易燃易爆、有毒、強(qiáng)腐蝕物品的試驗;
  3、非專業(yè)人員不得拆卸、維修;
  4、設(shè)備應(yīng)有可靠接地;
  5、試驗中除非必要請勿打開箱門或進(jìn)入箱內(nèi),否則可能引起人身傷害以及設(shè)備誤動作;
  6、設(shè)備箱門門鎖僅能從外部打開,進(jìn)入箱內(nèi)必須有人監(jiān)護(hù);
  7、如果箱內(nèi)放入發(fā)熱試樣,試樣請使用外加電源,不要直接使用設(shè)備本身電源;
  8、設(shè)備設(shè)有多種保護(hù)措施,請定期檢查;
  9、箱體內(nèi)溫度≥55℃時,請勿打開制冷壓縮機(jī),以保證壓縮機(jī)長壽命正常的運(yùn)行;
  10、有制冷功能的產(chǎn)品搬運(yùn)時傾角不得大于45℃,放置到位后,應(yīng)靜放1~2天再開機(jī),有利于制冷系統(tǒng)能正常工作并延長壽命;
  
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